在电镀应用中，磁性材料或是铁基材料经常会用到镀镍铜镍的镀层种类，但是因为首层和第三层都是镍元素，所以常规的X射线测厚仪无法区分，所以只能测量出双层镀镍层的总厚度，无法单独测量出首层镍层和第三层镍的厚度。
我公司经过对镀镍铜镍层的研究，应用第三代EFP无标样算法，解决了这一难题，应用X射线光谱仪镍铜镍镀层厚度检测仪一样可以**、无损的分开测量出镀镍铜镍三层镀层的厚度。
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技术指标：
1.多镀层分析，1～6层；
2.测试精度：0.001μm；
3.元素分析范围从元素分析范围：氯(Cl)-铀(U)，涂镀层分析范围：氯(Cl)/锂(Li)-铀(U)
4.测量时间：1~60秒(根据不同种镀层种类在工程师的建议下可以自动调节)；
5.SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；
6.小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
7.对焦距离：0-90mm(可以检测多90mm的凹槽面的镀层厚度)
8.微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶(高配微焦钼靶)；
9.6个准直器及多个滤光片自动切换；
10.XYZ三维移动平台，MAX荷载为5公斤；
11.高清CCD摄像头(200万像素)，准确监控位置；
12.多变量非线性去卷积曲线拟合；
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