高低温测试仪用于高、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、航天、橡胶、塑胶、金属、船舶、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温变化的情况下，检验其各项性能指标。
工业交换机采用宽温设计，-40℃～75℃的工作温度，是可以在极端条件下使用的工业级设备，每台工业交换机出厂都需要经过层层检测，本文就解说工业交换机为什么需要进行高低温的检测。 工业级交换机不同于商用交换机，往往是一开机就常年运行，而且运行的环境也往往较恶劣，沙尘、昆虫、潮湿都会直接影响风扇的运行。过高温度对工业交换机的影响是致命的，所以在设计时，除了设备的元器件要选择宽温度范围的工业级元器件外，还要经过高低温检测，高低温测试确保了在出厂后，每台工业交换机在恶劣环境下使用都安稳可靠，保证工业通信的稳定传输。 高低温检测是对工业交换机使用的安全保障，因此，这一项检测是必须要做的，工业交换机厂家对自身产品负责的同时还需对客户负责。
测试图IT65C/D模拟量接口电源上升时间的测试电源上升时间与开机时间的区别，上升时间（RiseTim：电压从没有上升至稳定的这段时间（一般量测输出电压的上下限为1%~9%或5%~95%），如上图所示，Va为输出电压的1%，Vb为输出电压的9%，Va，Vb之间的时间即为开机电压上升时间。测试方法：启动测试：选择启动测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Va，当待测电源输出电压达到Va时，开始测试；结束测试：选择结束测试触发源为电平触发方式，触发电平设定为Vb，当待测电源输出电压达到Vb时，停止测试；负载计算出两个触发信号之间的时间差，即为待测电源的上升时间。
将被测试产品(元器件、组件、部件或整机)置入高低温试验箱进行试验时，为了保证其测试产品周围气氛能满足试验规范所规定的环境试验条件，高低温试验箱工作尺寸与被测试产品外廓尺寸之间应遵循以下几点规则： 测试产品的体积(W×D不得超过试验箱有效工作空间的20～35%。对于在试验中发热的产品**选用不大于10% 测试产品的迎风断面积与该断面上试验箱工作室总面积之比不大于35～50%。 测试产品外廓表面距试验箱壁的距离至少保持100～150。
经高低温试验后的产品质量，一般都是按产品技术条件或技术协定中规定的要求检验。例如，高温环境对电机产品性能的影响，表现在导电材料的电阻变大，导致电流的变化，对有精度要求的电机，还会影响精度。因此，在高温试验后，应在试验箱内测定绝缘电阻，其值不低于5MΩ，同时还要测试电机的其他性能。一般情况下，产品经温度试验后，若能满足下列基本要求，便认为产品符合高低温要求。 产品表面无损伤，变形等缺陷。若是涂镀表面，应没有镀层剥落、起泡或变色等现象。 对于塑料零件，其表面无裂纹、起泡和变形等现象。 橡胶制品无老化、粘结、软化和裂开等现象。 产品零件焊接部位无流淌现象。 产品性能数据及结构功能符合技术条件盼要求，不应出现妨碍产品正常工作的任何其他缺陷。
FFT捕获带宽就对应RSRTE示波器型号的带宽。RSRTE1204能够**查看从0Hz到2GHz频率范围所有测试设备的辐射。采用频谱分量颜色编码显示的重叠FFT处理在RSRTE中，重叠FFT处理首先自动将捕获的时域信号分割成重叠的多个段。第2步，RSRTE计算每个分段的FFT，再将这些分段的FFT进行重叠显示，以便能观察到间歇性的信号，脉冲类干扰。根据信号发生的频率，对得到的频谱曲线进行颜色编码，就能够观察到间歇性的信号。
气候环境包含：高温试验，低温试验，交变温湿热（温变1-2℃/min)，**温度循环试验（温变快20℃/min），温度冲击试验，高温高湿试验，恒定湿热试验，低温低湿试验，高温低湿试验，盐雾腐蚀试验，IP等级测试（防尘试验IP1X-6X、防水试验IPX1-X等等； 中机械环境包含：振动试验（随机振动，正扫频振动，定频振动），模拟汽输车运试验，碰撞试验，机械冲击试验（半正弦波、方波、后峰锯齿波），跌落试验,G值跌落，滚筒跌落试验（0.5m和1m)，斜面冲击试验，堆码压力试验等； 高温试验详细介绍：本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。 低温试验介绍：本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。 温度冲击试验介绍：本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。 **温变试验介绍：本试验是用来确定产品在高温、低温**或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环，温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
冷却壁的冷却原理是通过冷却壁形成一个密闭的围绕高炉炉壳内部的冷却结构、实现对耐火材料的冷却和对炉壳的直接冷却。从而起到延长耐火材料使用寿命和保护炉壳的作用。在送风支管中间的黑色区域即为冷却壁目前有哪些手段检测送风支管？目前在炼铁厂通常使用红外测温仪、热电偶来进行冷却壁的检测。上述手段检测冷却壁存在哪些问题？因1块冷却壁的面积有大约2平方米，使用红外测温仪和热电偶无法在短时间内（一般高炉定检时间为8-12小时）将高炉安装的数百块冷却壁全部有效检测，这就导致了漏检隐患。
高低温老化箱主要是在模拟环境下的产品性能的测试,自然就会是在高温和低温状态下进行对产品质量的极限测试,重点在于提高产品质量性能的检测,和产品在环境下的综合性能,该设备主要是测试产品耐用性和产品的寿命的检测,主要是在和产品的质量检测较多,还有就是质监局和和航天企业中的用的比较多呢。 高低温老化箱的产品特点: 试验箱采用空气流通循环设计,内胆温度均匀,无任何死角;完整的产品保护装置,避免了安全隐患,保证该产品的稳定性能; 下吊篮式结构,上部为高温箱,下部为低温箱,采用高温箱,低温箱静止,试料部件通过上下移动之吊拦**移动到高、低温箱内,从而实现冷热冲击测试目的; 制器采用LCD人机界面控制器,中英文液晶显示画面,程序设定采用人机对话方式;操作简单; 品外形美观、结构合理、工艺、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
与其他灵敏的SMU相比，4201-SMU和4211-SMU的电容指标已经提高，这些SMU模块用于可配置的Model4200A-SCS参数分析仪，使用Clarius+软件进行交互控制。本文探讨了4201-SMU和4211-SMU可以进行稳定的弱电流测量的多种应用实例，包括测试：平板显示器上的OLED像素器件、长电缆MOSFET传递特点、通过开关矩阵连接的FET、卡盘上的纳米FETI-V测量、电容器泄漏测量。
高低温测试是指标准均达到标准GB/T10592测试条件，适用于按GB/T2423.2《电工电子产品环境试验 试低温试验方法，试高温试验方法》对产品进行低温及高温试验。高低温测试是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。 测试项目包括：防水防尘测试、振动、机械冲击、高压蒸煮、包装跌落，恒温恒湿，冷热冲击、气体腐蚀、盐雾、氙灯老化、抗拉强度、硬度、拉伸强度、高低温测试等服务。如若您有任何关于检测认证的问题可以咨询我们，我们将为您全力解，服务至您满意为止! 高温、低温对电子(塑胶)产品的影响： 高温可能使产品过热,影响使用安全可靠性，甚至损坏。如： 使绝缘或密封用灌浆胶熔化流失，润滑脂熔化流失，从而引起损塔 使材料性能发生变化 弹性元件的弹性或机械性能强度降低,缩短产品使用寿命 加速高分子材料和绝缘材料劣化和老化过程,缩短产品使用寿命。 低温对机械、电工、电子产品影响是多方面的，并因产品拄能、程度辅结构的特点而异，如： 使电解液冻结t导致电解电容器、电池不能正常使用 润滑油粘度增加,甚至冷凝冻结,影响产品起动性能 影响电子产品正常启动,仪表误差 使材料变脆,如塑料、钢铁在低温下容易发生脆裂损坏,橡胶材料硬度,弹性下降。
半导体材料研究和器件测试通常要测量样本的电阻率和霍尔电压。半导体材料的电阻率主要取决于体掺杂，在器件中，电阻率会影响电容、串联电阻和阈值电压。霍尔电压测量用来推导半导体类型(n还是p)、自由载流子密度和迁移率。为确定半导体范德堡法电阻率和霍尔电压，进行电气测量时需要一个电流源和一个电压表。为自动进行测量，一般会使用一个可编程开关，把电流源和电压表切换到样本的所有侧。A-SCS参数分析仪拥有4个源测量单元(SMUs)和4个前置放大器(用于高电阻测量)，可以自动进行这些测量，而不需可编程开关。
高低温测试业务范围 计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等;
其他：包装箱、运输设备等。高低温测试检测项目及标准
高温对产品有很多影响，如可靠性、氧化、化学变化、热扩散、电迁移、金属迁移、熔化、汽化变形等，通常周围环境每上升10℃，产品寿命就会减少到四分之一；当周围环境温度上升20℃，产品寿命就会减少一半，产品寿命遵循“10℃规则”，因而高温试验作为超常用的试验，用于元器件和整机的筛选、可靠性试验、寿命试验、加速寿命试验，同时在失效分析的验证上起重要作用。
同样的，低温也对产品有很多影响，如脆化、结冰、粘度、固化、机械强度的控制及物理性收缩等， 低温试验用于考核产品在低温环境下贮存和使用的适应性，常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验等。
依据标准 高温测试：GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2 低温测试：GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59 **温变测试：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 冷热冲击测试：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 EIA-364-32 恒温恒湿测试：GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202 温度变化测试：GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 交变湿热：GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30 温湿度组合循环测试：GB/T 2423.34 IEC60068-2-38 MIL-STD-202
I2C总线是一种由PHILIPS公司开发的两线式串行总线，用于连接微控制器及其外围设备。I2C总线产生于在80年代，-初为音频和设备开发，如今主要在服务器管理中使用，其中包括单个组件状态的通信可随时监控内存、硬盘、网络、系统温度等多个参数，增加了系统的安全性，方便了管理。I2C总线特点I2C总线-主要的优点是其简单性和有效性。由于接口直接在组件之上，因此I2C总线占用的空间非常小，减少了电路板的空间和芯片管脚的数量，降低了互联成本。
电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等;
电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备;
高温试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。
参考的测试标准：GB/T 24EC 60068-2-IEIA 3MIL-STD-810F等。
温度冲击试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
参考的测试标准：IEC60068-2-GB24JB150.5等
**温变试验是用来确定产品在高温、低温**或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。
试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环，温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
参考的测试标准：GB/T 24EC 60068-2-150.5等。
高低温试验是高温试验和低温试验的的简称，试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。
原子吸收光谱法，是基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量为基础的分析方法，是一种测量特定气态原子对光辐射的吸收的方法。此法是20世纪50年代中期出现并在以后逐渐发展起来的一种新型的仪器分析方法，它在地质、冶金、机械、化工、农业、食品、轻工、生物医药、环境保护、材料科学等各个领域有广泛的应用。该法主要适用样品中微量及痕量组分分析。每一种元素的原子不仅可以发射一系列特征谱线，也可以吸收与发射线波长相同的特征谱线。
高温试验一般是将产品置于恒温箱或恒温室内进行试验。介质的温度用温度计在不同位置测定，取其算术平均值。但要求箱内温度尽可能均匀，通过热空气流动加热产品，不应使试验样品靠近热源。为 减少辐射影响，试验箱的壁温不应高于环境温度3%。
低温试验一般在低温箱（室）内进行，其温度一般靠人工制冷的方法获得。在低温箱的有效工作空间内，用强迫空气循环来保持低温条件的均匀性。
据标准GB/T 2423.1-2008 & IEC60068-2-20GB/T 2423.2-2008 & IEC60068-2-20按地区和使用场合不同，分别规定了不同温度等级的优先数值。
低温环境温度：一65℃，一55℃，一45℃，一40℃，一30℃，一25℃，一15℃，一10℃，一5℃，0℃，+5℃。
高温环境温度：+200℃，+175℃，+155℃，+125℃，+100℃，+85℃，+70℃，+65℃，+60℃，+55℃，+50℃，+45℃，+40℃，+35℃，+30℃。
温度的允许偏差范围均为±2℃。在试验样品温度达到稳定后，高、低温条件试验的持续时间根据需要从下列数据中选取：2H、16H、72H、95H等。
具体换算请查看以下换算公式，以SO2为例。德图烟气分析仪在测量点中设定K值，即为过剩空气系数，此系数与O2值有关，德图烟气分析仪可以根据实测的氧含量以及设置的基准氧含量即K值过剩空气系数来进行换算。主要计算公式如上图可知。德图烟气分析仪中显示的mg/m3单位即为折算的质量比浓度，testo35Blue中显示的mg/m3*即为实测的质量比浓度(质量比浓度mg/m3已经换算到标准状况下，无需再次进行换算)。
高低温试验后产品应达到的基本要求： 经高低温试验后的产品质量，一般都是按产品技术条件或技术协定中规定的要求检验。例如，高温环境对电机产品性能的影响，表现在导电材料的电阻变大，导致电流的变化，对有精度要求的电机，还 会影响精度。因此，在高温试验后，应在试验箱内测定绝缘电阻，其值不低于5 MΩ，同时还要测试电机的其他性能。一般情况下，产品经温度试验后，若能满足下列基本要求，便认为产品符合高低温要求。
产品表面无损伤，变形等缺陷。若是涂镀表面，应没有镀层剥落、起泡或变色等现象。 对于塑料零件，其表面无裂纹、起泡和变形等现象。 产品零件焊接部位无流淌现象。 产品性能数据及结构功能符合技术条件盼要求，不应出现妨碍产品正常工作的任何其他缺陷。
示波器一般具有三个典型的部分，头部、电缆和补偿设备。其中头部的作用是与测试点直接接触，从而与被测系统产生电气连接，-终获取到需要测量的信号。电缆的作用则是使示波器和头部彼此不互相干涉，可以做到在不移动示波器的前提下，随意移动头部，使之可以方便的与测试点接触。-后的补偿设备，主要是为了尽量消除电缆带来的负面影响，从一定程度上保持的测量准确性。
