适用于制版业和各类印刷使用，帮助实施从印前至车间的综合性色彩控制
制版业和各类印刷使用
˙增加色稳定性和提高印刷品的质量
˙光谱感应器技术测量
˙大屏幕全中文显示
˙简单校正指示，坚固外壳防止碰撞
˙五种机型分别测量密度、密度差、网点面积、网点增大、叠印、印刷反差、色调误差、灰度、L*a*b*及
L*c*h*等、色彩比较、纸张偏色及亮度。可配合爱色丽专业品管软件使用
530型可配合专业色彩品质控制软件，将有关颜色资料储存于系统内，更有效改善印刷过程中所遇到的困难。
扫描式密度仪/分光仪系统
即时提供有关印制生产过程中的重要资料，帮助减低印刷作业准备时间及损耗。
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光学系统
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450/00 ，等同于ANSI和ISO标准
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测量直径
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3.4mm(标准)；2.0mm；6.0mm
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光源
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脉冲式充气钨丝灯，色温28560
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光谱范围
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400—700nm(适用于528及530型)
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标准照明体
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CIE A，C，D50，D65，D75，F2，F7，F11，F12(适用于528及530型)
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标准观察角度
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CIE 20和100(适用于528及530型)
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响应方式
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T，E，I，G，Tx，Ex，HIFI
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测量范围
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密度；0.00D-2.50D反射率：0-160%
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测量时间
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约1.4秒(无需预热)
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重复性
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0-2.0D：±0.005D；2.0-2.5D：±0.010D；配偏光滤色镜0-1.8D：±0.01；0.10△E以内
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仪器台间差
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0.01D或1%(传统印刷)；0.40△Ecmc以内(测量12块BCRA系列色板)
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数据界面
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RS-232串联接口，以波特率1200至57600作数据交换
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电源
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氢化金属镍充电池，充电时间：约3小时
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功能/型号
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504
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508
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518
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528
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530
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密度
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密度差
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网点面积
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网点增大
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叠印
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印刷反差
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色调误差
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灰等级可变余辉波形数据库
o 支持100 多种自动测量的测量系统 o 完整的通信测量套件，包括OMA、SSC 曲线及其它类型 的测量 o 自动ITU/ANSI/IEEE 模板测试 o 内置SONET/SDH、FC、以太网和其它标准模板和测量 功能 o 可以从出厂时提供的文件中加载模板更新程序 o 模板余量测试，支持相邻频段产品的测试 · 采集模块采集模块 o 全面集成多速率光接口模块 o 高达80+ GHz 的80C10B 光接口模块 o 高精度“ER Calibrated”测量在部分模块中提供 o 电接口模块，带宽高达70+ GHz，测得上升时间5 ps (10-90%) o 速率灵活的时钟恢复模块 o 时钟恢复，支持SSC (扩频时钟) · 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析 o 测量并从随机抖动中隔离确定性数据相关抖动 o 测量垂直噪声，从随机噪声中隔离确定性数据相关噪声 o 非常准确的BER 和眼图轮廓估算，支持**的DDPWS 和TWDP 测量 o FFE/DFE 均衡，发射机均衡 o 支持对>30 dB 的通道进行通道仿真 o 线性滤波器，支持夹具反嵌和线性滤波 · TDR (时域反射计) o 高达50GHz的TDR带宽，15 ps的反射上升时间，12 ps 的入射上升时间 o **的噪声，获得准确的可重复的TDR 测量结果- 在50 GHz 时为600 μVRMS o 独立校正采样器偏移，保证简便地反嵌夹具和探头 o 业内**能够支持**多四对真正差分TDR 或电接口通道 的示波器，提高了系统通用性 · S 参数测量 o 高达50 GHz 的差分、单端、混合模式测量功能；及插入 损耗、回波损耗、频域串扰测量功能 o 对千兆位信号路径和互连进行PCI Express、串行ATA、 Infiniband、千兆位以太网制造测试和标准一致性测试， 包括眼图模板测试 o 直观、简便、准确，保证串行数据、千兆位数字设计和 信号完整性 o 使用命令行界面，**准确地自动进行多端口S 参数测量 · 业内**的标准时基抖动性能，800 fsRMS · 业内**的时基抖动性能：在相位参考模式下<200 fsRMS*1 · **采集速率，高吞吐量 · 真正的差分远程采样器，可以放在DUT 附近，实现杰出的 信号保真度 · frameScanTM 采集模式，支持眼图平均功能： - 隔离数据相关问题 - 考察低功率信号 · MS Windows XP 操作系统 · 为第三方软件提供高级连接能力 Applications · 设计/ 检验电信和数据通信元件和系统 · ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造测试或一致性测试 · 高性能真正差分TDR 测量 · 高级抖动、噪声和BER 分析 · 对串行数据应用进行阻抗检定和网络分析，包括S 参数 · 通道和眼图仿真，建立基于测量数据的SPICE 模型 *1 典型值，使用相位参考模块，适用一定的条件。如果没有这个模块， 抖动<800 psRMS (典型值)。 优异的性能，杰出的通用性 在开发当前高速串行设备时，DSA8200 数字串行分析仪采样 示波器为通信、计算机和消费电子千兆位发射机和信号路径检 定和一致性检验提供了用途**广泛的工具。由于杰出的带宽、 信号保真度和**强的可扩展模块化结构，DSA8200 为当前和 新兴串行数据技术提供了**高性能的TDR和互连分析能力，** 准确的信号损伤分析能力，及BER 计算能力。 DSA8200 拥有超低本底抖动，提供了无可比拟的测量系统保 真度，保证**准确地采集高速信号。相位参考模块200 fs 的采 集抖动，为您提供了高级分析能力。 多处理器结构及专用每插槽数字信号处理器(DSP)提供了** 波形采集速率，降低了可靠的检定和一致性检验所需的测试时 间。 DSA8200采用通用的模块化结构，支持庞大的、且数量不断增 长的一系列模块插件，可以在测量系统中配置各种电接口、光 接口和配套模块， **有效地满足当前和未来应用需求。 DSA8200 有6 个模块插槽，可以同时支持一个时钟恢复模块、一个高精度相位参考模块和多个电接口或光接口采集模块，使 系统性能满足不断演变的需求。 这一系列电接口模块提供了业内**的信号保真度，包括12 GHz 到70+ GHz 的带宽性能。在配备远程采样器时，两个真正差分时域反射计(TDR)模块提供了高达50 GHz 的带宽、15 ps的反射上升时间和12 ps的入射上升时间。在配置远程采样器时，低噪声可变带宽电接口模块系列提供了业内**的噪 声性能，在60 GHz 时实现了450μVRMS 的噪声，在30 GHz时 实现了300μVRMS 的噪声。 DSA8200光接口模块提供了完整的光接口测试解决方案，拥有 125 Mb/s - 43 Gb/s及更高的杰出的系统保真度。这些模块涵 盖了单模光纤和多模光纤广泛的波长。每个模块都可以选配大 量的数据速率、可以选择的滤波器/ 光学参考接收机(ORR)和/ 或完整的带宽路径。80C07B、80C08C 和80C11 可以配置大 量的灵活集成的时钟恢复选项。其通过80A05或80A07 电接 口时钟恢复模块使用的电接口输出，支持80C12多速率模块时 钟恢复。 DSA8200流行的frameScanTM采集模式可以与DUT、BERT和 其它信号源的码型一起使用，隔离发射机中的码型相关效应， 或显示模板违规前的码序列。frameScan 自动进行时基定序， 以便按时序采集数据流的每个位。在与DSA8200 的模板测试 条件采集功能结合使用时，如命中模板后停止采集功能， frameScan 可以自动识别哪个位发生了码型相关故障。 此外，支持单端和差分电接口时钟恢复、TDR 静电保护及连接 流行的TekConnect 探测系统等功能的专用模块，为您提供了 **的探头性能，实现高阻抗和差分探测。另外还提供用于50 欧姆探测和TDR 探测的低阻抗探头。 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析 80SJNB 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析软件包为执行 串行数据链路分析及测量抖动和噪声提供了完善的软件。它还 内置基于(抖动和噪声)损伤的异常准确的BER估算功能，其精 度要高于简单的基于抖动的浴缸估算，同时它提供了BERT上 没有提供的分析功能。 该软件中还以**的方式提供了**的FFE/DFE均衡、通 道仿真和夹具反嵌工具。在与DSA8200 的模块化灵活性、完善的性能和无可比拟的系统保真度相结合时，这个串行数据链 路分析(SDLA)工具箱为验证和一致性测试下一代高速串行数据 设计提供了理想的解决方案。 如需更详细的信息，请参阅80SJNB 产品技术资料。 TDR (时域反射计) DSA8200是业内性能**高的全面集成的时域反射计(TDR)测量 系统。由于其提供了带宽高达50 GHz 的真正差分TDR 测量功 能及15 ps 的反射上升时间和12 ps 的入射上升时间，您可以 满足当前**苛刻的串行数据网络分析(SDNA)要求。 新推出的80E10 和80E08 TDR 模块全面集成独立双通道2 米 远程采样器系统 |
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